| 型号 | HCRW-3L | HCRW-3M8 | HCRW-3M10 |
|---|---|---|---|
| 测量性能 | Seebeck系数、电阻率、 | ||
| 温度范围 | -80 °C to 100 °C | RT, 50 °C to 800 °C | RT, 50 °C to 1000 °C |
| 样品大小 | 2 to 4 mm square or φ x 5 to 22 mm length | ||
| 测量环境 | 常温、高温、真空、气氛 | ||
| 选 配 |
水冷 |
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1、采用恒流源技术，达到热电材料测试标准技术。可以准确测试大电阻热电体系。
* 独立商用恒流源，非电路板集成恒流源，避免无法精准输出小电流；
* 独立恒流源系统：0.000-220mA；恒流设置分辨率：100nA；恒流稳定性：0.008+20nA/天
2、升级了控制系统， 实行热电材料在测试过程中， 每个温度点自动扫描电流， 智能输出合适的电流， 避免了在不同温度下恒定电流输出测试电导率带来的误差。
3、V-I曲线自动扫描，采用正负全程扫描技术，自动计算相关系统R-square数值，更加精准判定样品的接触状态。
4、升级了软件部分功能， 可以提供多种语言的版本选择。
通过对用户的多种样品的对照试验， 测试数据显示CTA性能完全达到目前较高水准的测试精度和重复性。
技术优势：
· 数据采集系统、直流电压/电流源和温度控制调节器（炉体）可以协同或独立使用，扩展使用功能。
· 可控温场下可同步测量赛贝克系数和电阻率
· 标准配置吉时利数采仪表，避免电路板数据采集技术带来的干扰误差
· 提供独立商用恒流源，非电路板集成恒流源，避免无法精准输出小电流；
· 独立恒流源系统：0.000-220mA；恒流设置分辨率：100nA；恒流稳定性：0.008+20nA/天
· 温度范围：RT up to 1150℃；光波炉加热技术，洁净加热不污染样品
· 控温速率：0.01 –100K/min，可以节约用户测试时间
· 配置垂直放样结构，上下样品支架夹持（三明治），控制温度差
· 测量范围：赛贝克系数：0.5μV/K-25V/K；电阻率：0.2μOhmm-2.5KOhmm
· 0-80K温差范围可任意设置温差值及温差点的个数
· U-I曲线自动扫描，计算出合适的电流数值， 可以测量电导率；不会对大电阻样品产生误差
· 铂金大电极设计，和样品可充分接触，对于不均匀样品也可获得良好的导电测试
· 热电偶间距可以根据样品尺寸调节后固定，满足不同科研要求
· 精度：赛贝克系数：±7 %；电导系数：±10 %（热电材料测试，非康铜标样）
· 高级应用程序控温技术，包括温差和测量步进等高级要求
· 自由升/降温、可控制温度程序，进行升温、恒温与降温过程中的数据测量
· 热电偶探针可选K、S、R型（无需铠装）配置，不会产生非常大的接触电阻
· 自动压力保护设计，确保测试过程中不会发生爆炸
· 测量系统：柱状、片状、长方体、薄膜等系统