高低温冷热台

    HCP650-PM是一款温度范围-190C~600C的温控探针台。使用时还可对样品气氛进行控制。这样既可以保证,即使在极低温度下,腔体也不产生结霜影响实验,又可以防止样品发生氧化。

    此款温控探针台通过杠杆式支架,使用的是弯针探针。相比传统的直针探针,这种设计不仅点针更准确,而且点针力度更大,和样品的电接触性更胜一筹。冷热台可配合KEITHLEY Keysight等国际品牌测量源表进行电学性能测量。

    HCP650 PM可单独使用,也可搭配显微镜/光谱仪使用。其可在-190°C ~ 600°C范围内控温,同时允许探针电测试、光学观察和样品气体环境控制。探针台上盖与底壳构成一个气密腔,可往内充入氮气等保护气体,来防止样品在负温下结霜,或高温下氧化。

      设备优势

    • 高速加热与冷却方式

      高能量的红外灯和镀金反射方式允许高速加热到高温。同时炉体可配置水冷系统,增设气体冷却装置,可实现快速冷却。

      温度高精度控制

      近红外镀金聚焦炉和温度控制器的组合使用,可以精确控制样品的温度(远比普通加温方式)。此外,冷却速度和保持在任何温度下可提供高精度。

      不同环境下的加热与冷却

      加热/冷却可用真空、气氛环境、低温(高纯度惰性气体 静态或流动),操作简单,使用石英玻璃制成。红外线可传送到加热/冷却室。

    温控&加热参数

    • 温度范围: -190℃~600℃(负温需配液氮割冷系统)

      传感器/温控方式:1000 RTD/ PID控制(含LVDC降噪电源)

      最大加热制冷速度:+80Cmim (100℃时),-50C℃/min

      最小加热/制冷速度:±0.01℃/min

      温度分辨率: 0.01°C

      温度稳定性: ±0.05℃ (>25℃),±0.1℃ (< 25℃)

      软件功能:可设温控速率,可设温控程序,可记录温控曲线

      加热区/祥品区: 28 mmx30mm

      样品腔高:6.3 mm*样品最大厚度由探针决定

      放样:打开上盖后置入样品再点针,关上盖后无法移动探针

      气氛控制:气密腔,可充入保护气体

      外壳冷却:可通循环水,以维持外亮温度在常温附近

      安装方式:水平安装或垂直安装

      台体尺寸/重量: 180 mmx130 mmx 26 mm/ 1500g

    HCP650-PM可单独使用,也可搭配显微镜/光谱仪使用。其可在-190°C ~ 600°C范围内控温,同时允许探针电测试、光学观察和样品气体环境控制。探针台上盖与底壳构成一个气密腔,可往内充入氮气等保护气体,来防止样品在负温下结霜, 或高温下氧化。
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